CDG-3000微機控制半軸熒光磁粉探傷機

一、設(shè)備名稱及用途：

1、設(shè)備名稱：CDG-3000微機控制半軸熒光磁粉探傷機

2、被測工件：半軸。

3、規(guī)格：長度0-1500mm，大頭直徑260mm，小頭直徑90mm。

4、檢測要求：檢查工件150盤的根部和整個桿部表面和近表面因鑄造、鍛造、機加工和疲勞而引起的裂痕等細(xì)微缺陷。

二、設(shè)備配置

1、電源控制柜            一套

2、磁化夾持裝置           一套

3、控制系統(tǒng)（西門子）     一套

4、磁懸液噴灑系統(tǒng)              一套

5、紫外燈系統(tǒng)                    一套

6、暗室系統(tǒng)                       一套

7、自動退磁系統(tǒng)               一套